談美國現行專利標的適格性判準之爭議及其政策意涵

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並列題名:A discussion on the current test for patent eligibility in the U.S.

作者:李森堙著

出版年:2019[民108]

出版社:國家實驗研究院科技政策研究與資訊中心

出版地:臺北市

格式:PDF,JPG

ISBN:978-957-619-264-7 ; 957-619-264-1

附註:STPI-D-E-OT-107-2 部分內容中英對照

書籍難度:


本文針對美國現行專利標的適格性判準之爭議進行討論與分析,並從三個面向切入討論,美國現行專利標的適格性判準是否有效地實踐其所被預設的政策價值,以及其所立基的政策價值是否適切等課題。

  • 中文摘要(p.I)
  • Abstract(p.II)
  • 執行摘要(p.III)
  • 第一章 前言(p.1)
  • 第五章 代結論:專利制度的政策意涵(p.39)
  • 參考文獻(p.41)